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    Titel :

    Large Scale Integration in Microelectronics


    Erscheinungsdatum :

    1970


    Format / Umfang :

    115 pages


    Medientyp :

    Report


    Format :

    Keine Angabe


    Sprache :

    Englisch




    Integration of silicon electroluminescent devices with silicon microelectronics

    Hirschman, K.D. / Tsybeskov, L. / Duttagupta, S.P. et al. | IEEE | 1997


    Microelectronics

    C. Husson | NTIS | 1964


    Microelectronics Reliability

    C. Mayberry / J. Bernstein | NTIS | 2017


    Integration of simulation and testing for microelectronics package reliability improvement

    Li,Q. / Dougherty,D. / Xu,Y.L. et al. | Kraftfahrwesen | 1998


    Integration of Simulation and Testing for Microelectronics Package Reliability Improvement

    Li, Q. / Dougherty, D. / Yong Li Xu et al. | British Library Conference Proceedings | 1998