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    Titel :

    Dalg a Program for Test Pattern Generation in Combinational Logical Circuits


    Erscheinungsdatum :

    1971


    Format / Umfang :

    45 pages


    Medientyp :

    Report


    Format :

    Keine Angabe


    Sprache :

    Englisch




    Test Pattern Generation for ILA Sequential Circuits

    Feng, Y. / Frenzel, J. / Maki, G. et al. | British Library Conference Proceedings | 1993


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