Hybrid microcircuit quality standards, inspection criteria, and reliability screening


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    Titel :

    Study of hybrid microcircuit quality standards, inspection criteria, and reliability screening techniques Final report


    Beteiligte:
    Jenkins, E. E. (Autor:in)

    Erscheinungsdatum :

    01.08.1969


    Medientyp :

    Report


    Format :

    Keine Angabe


    Sprache :

    Englisch


    Schlagwörter :


    Reliability of hybrid microcircuit bonding

    Caruso, S. V. / Kinser, D. L. / Graff, S. M. et al. | NTRS | 1976


    Study in optimization of microcircuit design Final report

    Arden, D. N. / Ghandhi, S. K. / Henry, E. et al. | NTRS | 1966


    Microcircuit masking techniques

    Gaudiano, S. | NTRS | 1967


    Reliability Characteristics of Various Microcircuit Technologies

    Lauffenburger, H. A. / Klein, M. R. | SAE Technical Papers | 1977