Pilot scanning dwell times and control workload in simulated instrument approach, using eye-point-of- regard /EPR/ measurements


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    Titel :

    Measurement and analysis of pilot scanning behavior during simulated instrument approaches


    Beteiligte:
    Klein, R. H. (Autor:in) / Weir, D. H. (Autor:in)

    Kongress:

    AMERICAN INST. OF AERONAUTICS AND ASTRONAUTICS, GUIDANCE, CONTROL AND FLIGHT MECHANICS CONFERENCE ; 1970 ; SANTA BARBARA, CA


    Erscheinungsdatum :

    01.08.1970


    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Keine Angabe


    Sprache :

    Englisch


    Schlagwörter :