For abstract, see N74-27185.


    Zugriff

    Zugriff über TIB

    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen


    Exportieren, teilen und zitieren



    Titel :

    Measurement component technology. Volume 3: Cryogenic temperature measurement and high temperature strain gage technology


    Beteiligte:
    Hayakawa, K. K. (Autor:in) / Udell, D. R. (Autor:in) / Iwata, M. M. (Autor:in) / Lytle, C. F. (Autor:in) / Chrisco, R. M. (Autor:in) / Greenough, C. S. (Autor:in) / Walling, J. A. (Autor:in)

    Erscheinungsdatum :

    13.10.1972


    Medientyp :

    Report


    Format :

    Keine Angabe


    Sprache :

    Englisch


    Schlagwörter :





    High Temperature Strain Measurement with a Resistance Strain Gage

    Lei, J.-F. / Fichtel, E. / McDaniel, A. et al. | British Library Conference Proceedings | 1993


    High Temperature Strain Measurement with a Resistance Strain Gage

    Lei, J.-F. / Fichtel, E. / McDaniel, A. et al. | British Library Conference Proceedings | 1993