Ellipsometer, used with ultrahigh vacuum, allows measurement of varied angles of incidence. Vacuum chamber, directly incorporated into optical bench systems, allows varied angle measurements to be taken through same region of a window.


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    Titel :

    Ellipsometer for measurement in ultrahigh vacuum


    Beteiligte:
    Walter, H. U. (Autor:in) / Weitzenkamp, L. A. (Autor:in) / Peters, P. N. (Autor:in)

    Erschienen in:

    Erscheinungsdatum :

    01.03.1976



    Medientyp :

    Sonstige


    Format :

    Keine Angabe


    Sprache :

    Englisch


    Schlagwörter :


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