Compact instrument gives instantaneous reading of accumulation of small particles on glass plate. Instrument is sensitive to particles as small as one hundred microns and should be adaptable to monitoring particulate air pollution or dust levels in semiconductor clean rooms. Dual collimated light sources produce highly monochromatic radiation direct at grazing single angle onto glass plate.


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    Titel :

    Dust-contamination monitor


    Beteiligte:

    Erschienen in:

    Erscheinungsdatum :

    01.11.1977



    Medientyp :

    Sonstige


    Format :

    Keine Angabe


    Sprache :

    Englisch


    Schlagwörter :


    Contamination monitor

    Sheehy, R. N. | NTRS | 1968


    Contamination Monitor

    R. N. Sheehy | NTIS | 1968


    Monitor for optical-window contamination

    Harnett, L. N. | NTRS | 1977


    Air data probe contamination monitor

    CADOTTE PATRICK / LAHEY SEAN | Europäisches Patentamt | 2017

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    AIR DATA PROBE CONTAMINATION MONITOR

    CADOTTE PATRICK / LAHEY SEAN | Europäisches Patentamt | 2016

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