Calibrated set of microcircuit packages containing tiny particles with known masses can be used as reference standards for Particle-Impact Noise-Detection (PIND) tests.


    Zugriff

    Zugriff über TIB

    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen


    Exportieren, teilen und zitieren



    Titel :

    Calibration standards for PIND tests


    Beteiligte:
    Gaudiano, S. (Autor:in)

    Erschienen in:

    Erscheinungsdatum :

    01.01.1979



    Medientyp :

    Sonstige


    Format :

    Keine Angabe


    Sprache :

    Englisch


    Schlagwörter :


    PIND Task Group Report

    Benny Damron | NTRS


    PIND Task Group Report

    Benny Damron / Joe Miceli | NTRS


    PIND Task Group Report

    B. Damron | NTIS | 2022


    Particle-impact noise detector (PIND)

    Barr, R. J. / Jackson, D. E. / Leaf, W. D. et al. | NTRS | 1978