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    Titel :

    BEEM Spectroscopy and Imaging of Metal/GaN Interfaces


    Beteiligte:
    Bell, L. D. (Autor:in) / Smith, R. P. (Autor:in) / McDermott, B. T. (Autor:in) / Gertner, E. R. (Autor:in) / Pittman, R. (Autor:in) / Pierson, R. L. (Autor:in) / Sullivan, G. J. (Autor:in)

    Kongress:

    American Physical Society


    Erscheinungsdatum :

    16.03.1998


    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Keine Angabe


    Sprache :

    Englisch




    Charge-Carrier-Scattering Spectroscopy With BEEM

    Hecht, Michael H. / Bell, Lloyd D. / Kaiser, William J. | NTRS | 1992




    Using BEEM To Probe Strains In Semiconductors

    Bell, L. Douglas / Milliken, Autumn M. / Manion, Stephen J. et al. | NTRS | 1996


    Coherent phonon spectroscopy of semiconductor-metal interfaces

    Chang, Y.-M. / Guo li Taiwan da xue / Taiwan guang xue gong cheng xue hui | British Library Conference Proceedings | 2003