This paper provides a discussion of the subject and an approach to establish a reliability and qualification methodology to facilitate the utilization of state-of-the-art advanced microelectronic devices and structures in high reliability applications.


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    Titel :

    Reliability and qualification of advanced microelectronics for space applications


    Beteiligte:
    Kayali, S. (Autor:in)

    Kongress:

    CANEUS Workshop on Micro-Nano Technology for Aerospace Applications


    Erscheinungsdatum :

    01.01.2003


    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Keine Angabe


    Sprache :

    Englisch