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    Titel :

    Radiation Effects in State-of-the Art CMOS Image Sensors


    Beteiligte:
    A. Antonsanti (Autor:in) / C. Virmontois (Autor:in) / V. Goiffon (Autor:in) / A. Le Roch (Autor:in) / L. D. Ryde (Autor:in) / J.-M. Lauenstein (Autor:in)

    Kongress:

    Young Researchers Days JC^2 ; 2023 ; Toulouse, FR


    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Keine Angabe


    Sprache :

    Englisch





    Automotive CMOS Image Sensors

    Maddalena, S. / Darmont, A. / Diels, R. | British Library Conference Proceedings | 2005



    Design of radiation tolerant CMOS APS system-on-a-chip image sensors

    Eid, E.-S. / Ay, S.U. / Fossum, E.R. | IEEE | 2002


    Radiation-induced dark signal in 0.5-mum CMOS APS image sensors [4134-13]

    Eid, E.-S. I. / Tsai, R. H. / Fossum, E. R. et al. | British Library Conference Proceedings | 2000