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    Titel :

    Kelvin probe measurements of microcrystalline silicon on a nanometer scale using SFM



    Erschienen in:

    Erscheinungsdatum :

    2001



    Medientyp :

    Aufsatz (Zeitschrift)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch



    Klassifikation :

    BKL:    50.70 Energie: Allgemeines / 52.56 Regenerative Energieformen, alternative Energieformen / 52.52 Thermische Energieerzeugung, Wärmetechnik / 53.36 Energiedirektumwandler, elektrische Energiespeicher




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    Eigler, D. | IEEE | 2004

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    Rath, Jatindra K. | Online Contents | 2002