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    Titel :

    Measuring Thicknesses of Vacuum-Deposited Organic Thin Films


    Erschienen in:

    NASA tech briefs ; 20 , 4 ; 48


    Erscheinungsdatum :

    1996



    Medientyp :

    Aufsatz (Zeitschrift)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch


    Klassifikation :

    BKL:    50.00 Technik allgemein: Allgemeines / 50.00 / 55.60 Raumfahrttechnik / 55.60




    Measuring Thicknesses of Wastewater Films

    Schubert, F. H. / Davenport, R. J. | NTRS | 1987


    Nonlinear Optics and Electroluminescence Using High Vacuum Deposited Organic Thin Films

    IEEE; Lasers and Electro-Optics Society | British Library Conference Proceedings | 1994



    Measuring Thicknesses of Coatings on Metals

    Cotty, Glenn M., Jr. | NTRS | 1986