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    Titel :

    STRUCTURAL MECHANICS AND MATERIALS - In Situ Imaging of Crack Growth with Piezoelectric-Wafer Active Sensors



    Erschienen in:

    AIAA journal ; 45 , 11 ; 2758-2769


    Erscheinungsdatum :

    2007



    Medientyp :

    Aufsatz (Zeitschrift)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch


    Schlagwörter :

    Klassifikation :

    BKL:    50.93 / 55.50 Luftfahrzeugtechnik / 50.93 Weltraumforschung / 55.60 Raumfahrttechnik / 55.50 / 55.60
    Lokalklassifikation TIB:    770/7040



    In-Situ Imaging of Crack Growth with Piezoelectric Wafer Active Sensors

    Giurgiutiu, Victor / Jenkins, Christopher / Kendall, James et al. | AIAA | 2006


    In-Situ Imaging of Crack Growth with Piezoelectric-Wafer Active Sensors

    Victor Giurgiutiu / Lingyu Yu / James Kendall et al. | AIAA | 2007


    AIAA-2006-2114 In-Situ Imaging of Crack Growth with Piezoelectric Wafer Active Sensors

    Giurgiutiu, V. / Jenkins, C. / Kendall, J. et al. | British Library Conference Proceedings | 2006