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    Titel :

    Membrane degradation mechanism during open-circuit voltage hold test



    Erschienen in:

    Journal of power sources ; 182 , 1 ; 39-47


    Erscheinungsdatum :

    2008



    Medientyp :

    Aufsatz (Zeitschrift)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch



    Klassifikation :

    Lokalklassifikation TIB:    645/5625
    BKL:    52.57 Energiespeicherung / 53.36 Energiedirektumwandler, elektrische Energiespeicher



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