Zugriff

    Zugriff über TIB

    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen

    Bestellung bei Subito €


    Exportieren, teilen und zitieren



    Titel :

    How to Mitigate Hardware Obsolescence in NextGen Test Systems



    Erschienen in:

    Erscheinungsdatum :

    2010



    Medientyp :

    Aufsatz (Zeitschrift)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch



    Klassifikation :

    BKL:    53.70 / 53.70 Nachrichtentechnik, Kommunikationstechnik: Allgemeines / 55.64 Raumfahrzeugführung / 55.54 Flugführung / 55.54 / 55.64
    Lokalklassifikation TIB:    770/5650



    How to mitigate hardware obsolescence in NextGen test systems

    Tacha, Nathan / McCarthy, Alex / Powell, Brian et al. | IEEE | 2010


    NextGen test beds (FTB and NIEC)

    Lento, Nick | IEEE | 2012


    Taming NextGen

    Iannotta, Ben | Online Contents | 2016



    NextGen integration

    Spurio, Kip | IEEE | 2010

    Freier Zugriff