Die Verbesserungen in der Elektronik haben die Waffensystemebeeinflusst und fuehrten zu einer groesseren Komplexitaet derSubsysteme. Durch die Entwicklungen in der Technologie sinddie Anforderungen nach verbesserten Waffensystemen gleichzeitig gestiegen. In diesem Bericht wird die Entwicklung eines integrierten Testsystems beschrieben. Eine Einfuehrung in die grundsaetzlichen Elemente dieses Testsystems soll gleichzeitigeinen Ueberblick ueber den gesamten Bereich geben. Dies schliesst eine allgemeine Beschreibung und die Funktionsweise ein. Daran schliesst sich eine Diskussion der Anwendungsbereichefuer dieses Testsystem an. Diese Diskussion beschraenkt sichauf integrierte Testmethoden, die fuer die Verbesserung vonWaffensystemen anwendbar sind.


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    Titel :

    Electronics impact on advanced weapon systems - 'On-board test and monitoring of advanced weapon systems'


    Weitere Titelangaben:

    Einfluss der Elektronik zur Verbesserung von Waffensystemen


    Beteiligte:
    Stephens, J.R. (Autor:in)


    Erscheinungsdatum :

    1975


    Format / Umfang :

    7 Seiten, 17 Bilder, 2 Quellen


    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch





    Advanced weapon systems - integration technology

    Thullen, M.J. | Tema Archiv | 1981


    Integrated Diagnostics for Advanced Weapon Systems

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    Dusa, D.J. / Dunbar, D.K. / Speir, D.W. | SAE Technical Papers | 1983