Seit der Entwicklung der digitalen Graufeld-Polarisationsgeräte sind spannungsoptische Messungen nicht mehr nur auf statische oder quasi-statische Anwendungen beschränkt. Der größte Vorteil dieser Systeme besteht in der wesentlich verbesserten Empfindlichkeit, wodurch eine Auswertung des Spannungszustandes auch ohne Ausbildung eines Streifensystems möglich ist. Dies wiederum lässt das Auftragen dünnerer doppelbrechender Schichten zu (Dicke 0,1 bis 0,4 mm), was die Präparation der Werkstückoberflächen stark vereinfacht. Durch das Auftragen gefärbter Beschichtungen kann deren Dicken zudem direkt gemessen und damit das System laufend nachkalibriert werden. Als Anwendungsbeispiel wird die Messung der Druckspannungen im Kantenbereich von Automobilglasscheiben beim Einbau angeführt. Die ersten digitalen Systeme arbeiten mit zirkular polarisiertem Licht, einer CCD-Kamera und einem rotierenden Analysator. Weiter entwickelte Geräte enthalten vier unabhängige Abbildungssysteme, deren Bilder unterschiedlich polarisiert sind und die auf einem CCD-Chip überlagert werden. Diese Systeme liefern quantitative, kalibrierte Spannungsfelder mit Folgefrequenzen bis zu 20 Hz. Illustriert wird dies an einem Abbild der Spannungsverteilung auf der Flügeloberfläche eines mit 563 Umdrehungen pro Minute drehenden Ventilators. Die Beleuchtung des Flügels wurde dabei stroboskopartig mit der Rotation synchronisiert. (Gebhardt, W.)


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    Titel :

    Real-time photoelastic stress analysis. A new dynamic photoelastic method


    Weitere Titelangaben:

    Echtzeit-spannungsoptische Spannungsanalyse. Ein neues dynamisches spannungsoptisches Verfahren


    Beteiligte:
    Honlet, M. (Autor:in) / Calvert, G.C. (Autor:in) / Lesniak, J.R. (Autor:in) / Boyce, B.R. (Autor:in)


    Erscheinungsdatum :

    2004


    Format / Umfang :

    4 Seiten, 6 Bilder, 4 Quellen



    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch




    Photoelastic stress analysis in monocoque construction

    Yassin, I.B. | Engineering Index Backfile | 1936


    How stress distribution is determined by photoelastic method

    Kimball, Jr., A.L. | Engineering Index Backfile | 1925


    Photoelastic Model Analysis of Sandwich Beams

    S.K. BANSAL AND C.L. AMBA RAO | AIAA | 1973


    Photoelastic model analysis of sandwich beams.

    BANSAL, S. K. / AMBA-RAO, C. L. | AIAA | 1972