Die HIL--(Hardware-in-the-Loop-)Technologie bietet einen modellbasierten closed-loop-Test, der im Gegensatz zu den Brettaufbauten vollständig automatisiert werden kann. Die Einsatzgebiete der HIL Simulation reichen heute von der Funktionsüberprüfung einzelner Steuergeräte über die Vorapplikation von Steuergeräten bis hin zur entwicklungsbegleitenden Qualitätssicherung mit Integrationstest bzw. Regressionstest für die Serienfreigabe. Die HIL-Technologie und ihre Vorteile gegenüber konventionellen Testmethoden (z. B. Brettaufbauten) werden am Beispiel eines Verbundsimulators für den Fiat Stilo, welcher bei der Fiat-Tochter ELASIS eingesetzt wird, beschrieben. Außerdem wird auf die Realisierung einer umfassenden Testumgebung zum automatischen Test der insgesamt mehr als 20 Steuergeräte eingegangen, die durch zwei CAN (Controller Area Network) Busse verbunden sind. Den Kern des Simulators bilden drei große 19-Zoll-Schränke basierend auf dem modularen Full-Size Konzept. Dies ist praktisch beliebig ausbau- und erweiterbar und ermöglicht ein Maximum an Flexibilität und Wiederverwendbarkeit. Die einzelnen Simulatorschränke sind über optische Gigalink-Verbindungen zu einem Simulatorverbund gekoppelt. Jeder Schrank besitzt mindestens einen Echtzeit-Prozessor sowie die Ein-/Ausgänge zur Bedienung der angeschlossenen Steuergeräte. Die Streckenmodelle und die Ein-/Ausgänge des Testsystems sind vollständig in MATLAB/Simulink (the MathWorks, Natick, MA, USA) implementiert. Es lassen sich alle Teilmodelle für die beteiligten Prozessoren aus einem Simulink-Modell heraus generieren.


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    Titel :

    Automatisierter HIL-Test im Entwickungsprozess vernetzter, automotiver Elektroniksysteme


    Weitere Titelangaben:

    Automated HIL-testing in the development process for networked, automotive electronic systems


    Beteiligte:
    Plöger, M. (Autor:in) / Schütte, Herbert (Autor:in) / Ferrara, F. (Autor:in)


    Erscheinungsdatum :

    2004


    Format / Umfang :

    11 Seiten, 10 Bilder, 12 Quellen




    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Deutsch




    Automatisierter HIL Test im Entwicklungsprozess vernetzter, automotiver Elektroniksysteme

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