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    Titel :

    The Use of Physics-of-Failure Analysis to Predict the Reliability of Semiconductor Devices


    Beteiligte:

    Kongress:

    International congress, Society of Automotive Engineers ; 1999 ; Detroit; MI



    Erscheinungsdatum :

    01.01.1999


    Format / Umfang :

    ALL


    Anmerkungen:

    Nos 1999-01-0001 to 1999-01-1336 with gaps



    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch




    The use of physics-of-failure analysis to predict the reliability of semiconductor devices

    Knoell,B. / Adams,R. / McCluskey,P. et al. | Kraftfahrwesen | 1999


    The Use of Physics-of-Failure Analysis to Predict the Reliability of Semiconductor Devices

    Knoell, Bob / McCluskey, Patrick / Adams, Rick | SAE Technical Papers | 1999




    Using PoF models to predict system reliability considering failure collaboration

    Zeng, Zhiguo / Kang, Rui / Chen, Yunxia | British Library Online Contents | 2016