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    Titel :

    The use of physics-of-failure analysis to predict the reliability of semiconductor devices


    Weitere Titelangaben:

    Anwendung der physikalischen Fehleranalyse auf die Voraussage der Zuverlaessigkeit von Halbleitergeraeten.



    Erscheinungsdatum :

    1999


    Format / Umfang :

    6 pages


    Anmerkungen:

    SAE-Paper;1999-01-0163;1999


    Medientyp :

    Sonstige


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch