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    Titel :

    7.1203 Failure Diagnosis of Integrated Circuits Using IR Laser Images



    Kongress:

    Aerospace conference ; 2003 ; Big Sky, MT



    Erscheinungsdatum :

    01.01.2003


    Format / Umfang :

    2552 pages


    Anmerkungen:

    IEEE cat no 03TH8652, CD-ROM version 03TH8652C




    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch




    Failure diagnosis of integrated circuits using ir laser images

    Keenan, E. / Wright, R.G. / Kirkland, L.V. | IEEE | 2003


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