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    Titel :

    Failure diagnosis of integrated circuits using ir laser images


    Beteiligte:
    Keenan, E. (Autor:in) / Wright, R.G. (Autor:in) / Kirkland, L.V. (Autor:in)


    Erscheinungsdatum :

    01.01.2003


    Format / Umfang :

    1681274 byte





    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Elektronische Ressource


    Sprache :

    Englisch



    7.1203 Failure Diagnosis of Integrated Circuits Using IR Laser Images

    Institute of Electrical and Electronics Engineers | British Library Conference Proceedings | 2003


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