Zugriff

    Zugriff über TIB

    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen

    Bestellung bei Subito €


    Exportieren, teilen und zitieren



    Titel :

    Surface profile measurement and stabilized Michelson interferometer



    Kongress:

    5th, Pacific Rim conference on lasers and electro-optics; photonics lights innovation: from nano-structures and devices to systems and networks ; 2003 ; Taipei, Taiwan



    Erscheinungsdatum :

    01.01.2003


    Format / Umfang :

    578 pages


    Anmerkungen:

    Includes bibliographic references and author index



    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch




    Surface profile measurement and stabilized Michelson interferometer

    Jin-Tae Kim, / Dohyoung Kim, / Hyun Su Kim, | IEEE | 2003


    Surface profile measurement by using stabilized polarization interferometer module

    Zhen Liu, / Hyun Su Kim, / Jong Rak Park, et al. | IEEE | 2005



    The Nimbus 4 Michelson Interferometer

    R. A. Hanel / D. Rogers / B. Schlachman et al. | NTIS | 1970


    Multiple spacecraft Michelson stellar interferometer

    Stachnik, R. V. / Arnold, D. / Melroy, P. et al. | NTRS | 1984