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    Titel :

    Reliability Evaluation of 1.3 Micron, Oxide-Apertured, InGaAsN VCSELs



    Kongress:

    annual meeting; 17TH, IEEE Lasers & Electro-optics Society:; LEOS 2004 ; 2004 ; Rio Grande, Puerto Rico



    Erscheinungsdatum :

    01.01.2004


    Format / Umfang :

    2 pages


    Anmerkungen:

    IEEE cat. no. 04CH37581




    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch




    Reliability evaluation of 1.3 micron, oxide-apertured, InGaAsN VCSELs

    Naone, R.L. / Wasinger, N.M. / Beltran, J.G. et al. | IEEE | 2004


    High-performance 1.3-micron InGaAsN VCSELs

    Klem, J.F. / Serkland, D.K. / Geib, K.M. | IEEE | 2001


    WY2 High-Performance 1.3-Micron InGaAsN VCSELs

    IEEE | British Library Conference Proceedings | 2001


    1.3 micron InGaAsN oxide-confined VCSELs grown by MOCVD

    Murray, C.S. / Newman, F.D. / Shangzhu Sun, et al. | IEEE | 2002