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    Titel :

    Evaluation and Strain Measurement of Solar Cells By Using Digital Speckle Pattern Shearography


    Beteiligte:
    Ansari, M. A. (Autor:in) / Massudi, R. (Autor:in) / IEEE

    Kongress:

    International conference; 2ND, Advanced optoelectronics and lasers:; CAOL 2005 ; 2005 ; Yalta, Ukraine



    Erscheinungsdatum :

    01.01.2005


    Format / Umfang :

    3 pages


    Anmerkungen:

    IEEE cat no: 05TH8809



    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch





    Combined shearography and speckle pattern photography for single-access multi-component surface strain measurement [5058-44]

    Groves, R. M. / Fu, S. / James, S. W. et al. | British Library Conference Proceedings | 2003



    Digital shearography for strain measurement: an analysis of measuring errors [3479-07]

    Steinchen, W. / Yang, L. / Maeckel, G. et al. | British Library Conference Proceedings | 1998


    Measurement of residual stress in materials using digital shearography

    Hung,Y.Y. / Long,K.W. / Wang,J.Q. et al. | Kraftfahrwesen | 1996