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    Titel :

    Material Simulation-Based Electronic Device Prognosis


    Beteiligte:
    Nasser, L. (Autor:in) / Tryon, R. (Autor:in) / Dey, A. (Autor:in) / IEEE

    Kongress:

    IEEE aerospace conference ; 2005 ; Big Sky, MT



    Erscheinungsdatum :

    01.01.2005


    Format / Umfang :

    6 pages


    Anmerkungen:

    IEEE cat no 05TH8788




    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch





    11.1106 Integration of Material-Based Simulation into Prognosis Architectures

    IEEE | British Library Conference Proceedings | 2004



    Corrosion/Corrosion Fatigue and Material Prognosis

    Wei, R. P. / Harlow, D. G. / Muench, D. et al. | British Library Conference Proceedings | 2005


    Efficient vehicle dynamics development via simulation-based prognosis tools

    Peperhowe, Michael / Schindler, Wolfgang | Tema Archiv | 2013