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    Titel :

    Ultrafast-ultrafine probing of high-speed electrical waveforms using a scanning force microscope with photoconductive gating


    Beteiligte:
    Nees, J. (Autor:in) / Wakana, S.-I. (Autor:in) / Hama, S. (Autor:in)


    Erscheinungsdatum :

    01.01.1996


    Format / Umfang :

    24 pages



    Medientyp :

    Aufsatz (Zeitschrift)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch


    Klassifikation :

    DDC:    537.5




    An Ultrafast-Ultrafine Scanning Force Photoconductive Probe

    IEEE / Lasers and Electro-Optics Society | British Library Conference Proceedings | 1995


    Ultrafast Photoconductive Switches with a Gap of 43 nm Fabricated by Atomic Force Microscope

    Itatani, T. / Nakagawa, T. / Matsumoto, K. et al. | British Library Conference Proceedings | 1997