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    Titel :

    Yield Analysis of Optical MEMS Assembly Process Using a Monte Carlo Simulation Technique


    Beteiligte:
    Badreldin, T. (Autor:in) / Saad, T. (Autor:in) / Khalil, D. (Autor:in)

    Erschienen in:

    Erscheinungsdatum :

    01.01.2005


    Format / Umfang :

    7 pages



    Medientyp :

    Aufsatz (Zeitschrift)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch


    Klassifikation :

    DDC:    621.3692



    Role of boundary conditions in Monte Carlo simulation of MEMS devices

    Nance, Robert / Hassan, H. / Hash, David | AIAA | 1997


    Role of Boundary Conditions in Monte Carlo Simulation of MEMS Devices

    Nance, R. P. / Hash, D. B. / Hassan, H. A. et al. | British Library Conference Proceedings | 1997


    Hall Effect Thrusters Ceramics Sputtering Yield determination by Monte Carlo Simulation

    Tondu, Thomas / Viel-Inguimbert, V / Roussel, J-F et al. | AIAA | 2008


    Use of Monte Carlo simulation technique in accident reconstruction

    Kos,G. / Werner,S.M. / Failure Analysis Ass.,US | Kraftfahrwesen | 1994


    Probabilistic Reanalysis Using Monte Carlo Simulation

    Farizal / Nikolaidis, Efstratios / Zhang, Geng et al. | SAE Technical Papers | 2008