Zugriff

    Zugriff über TIB

    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen

    Bestellung bei Subito €


    Exportieren, teilen und zitieren



    Titel :

    Study on Error Correction in Dual Galvanometer Scanning System Based on Elman Recurrent Neural Network


    Beteiligte:
    Xiaoming, C. (Autor:in) / Jun, H. (Autor:in) / Haihong, Y. (Autor:in)

    Erschienen in:

    Erscheinungsdatum :

    01.01.2006


    Format / Umfang :

    4 pages



    Medientyp :

    Aufsatz (Zeitschrift)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Unbekannt


    Klassifikation :

    DDC:    500




    Galvanometer, scanning imaging system, laser radar and vehicle

    ZHOU ZHIHAO / WU YUSHUN / CHEN SHI et al. | Europäisches Patentamt | 2024

    Freier Zugriff

    An Elman Neural Network-Based PH Controller for MCM Cleaning Processes

    Wang, P. / Vachtsevanos, G. | British Library Online Contents | 1996