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    Titel :

    Study on the method for the reliability test of focused ion beam


    Beteiligte:
    Lee, S. H. (Autor:in) / Kang, H. W. (Autor:in) / Cho, D. W. (Autor:in) / Moon, W. (Autor:in)

    Erschienen in:

    MICROSYSTEM TECHNOLOGIES ; 13 , 5-6 ; 569-577


    Erscheinungsdatum :

    01.01.2007


    Format / Umfang :

    9 pages



    Medientyp :

    Aufsatz (Zeitschrift)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch


    Klassifikation :

    DDC:    629.83



    Reliability of integrated circuits modified by focused ion beam for space applications

    Desplats, R. / Courrege, J. C. / Benteo, B. et al. | British Library Conference Proceedings | 2002


    Reliability of integrated circuits modified by focused ion beam for space applications

    Desplats, R. / Courrege, J.C. / Benteo, B. et al. | Tema Archiv | 2002


    Reliability-Focused Design of Advanced Rotorcraft Configurations

    Scott, Robert | British Library Conference Proceedings | 2016


    Focused evanescent field under radially polarized beam illumination

    Baohua Jia, / Xiaosong Gan, / Min Gu, | IEEE | 2005


    Focused Evanescent Field under Radially Polarized Beam Illumination

    IEEE Lasers and Electro-optics Society | British Library Conference Proceedings | 2005