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    Titel :

    Reliability of integrated circuits modified by focused ion beam for space applications


    Beteiligte:

    Kongress:

    European space components conference ; 2002 ; Toulouse, France



    Erscheinungsdatum :

    01.01.2002


    Format / Umfang :

    10 pages




    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch




    Reliability of integrated circuits modified by focused ion beam for space applications

    Desplats, R. / Courrege, J.C. / Benteo, B. et al. | Tema Archiv | 2002


    High reliability circuits for space applications

    Gregoris, G. | Tema Archiv | 1995



    Study on the method for the reliability test of focused ion beam

    Lee, S. H. / Kang, H. W. / Cho, D. W. et al. | British Library Online Contents | 2007


    High power laser with integrated lens using focused ion beam etching

    Rashed, A.M. / Williams, K.A. / Penty, R.V. et al. | IEEE | 1999