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    Titel :

    A Serial Optical Link Based Memory Test System for High-Speed and Multi-Parallel Test


    Beteiligte:
    Lee, S.-H. (Autor:in) / Cho, S. (Autor:in) / Song, K.-J. (Autor:in) / Byun, E.-J. (Autor:in) / Joo, S. (Autor:in) / Suh, S.-D. (Autor:in) / Ha, K. (Autor:in) / Oh, S.-J. (Autor:in) / Lee, W. (Autor:in)

    Erschienen in:

    Erscheinungsdatum :

    01.01.2010


    Format / Umfang :

    104 pages



    Medientyp :

    Aufsatz (Zeitschrift)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch


    Klassifikation :

    DDC:    621.3692



    High-speed Spectroholographic Parallel Digital Optical Memory

    Shen, X.A. / Nguyen, A.D. / Perry, J. et al. | IEEE | 1997


    Study on a Parallel Test System Based on Multi-Core

    Wang, L. / Xiao, M. / Xia, R. | British Library Online Contents | 2008


    High speed test flying

    Yeager, C.E. | Engineering Index Backfile | 1956


    Serial-parallel connection switching control algorithm for serial-parallel hybrid power system

    YE WEIHONG / ZHU WUXI / WU KUNCHANG et al. | Europäisches Patentamt | 2015

    Freier Zugriff

    Highly scalable serial-parallel optical delay line

    Baby, V. / Lei Xu, / Glesk, I. et al. | IEEE | 2003