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    Titel :

    Piezoelectric nanopositioners forge low-cost atomic force microscope: In the nanopositioning industry, prices continue to fall as resolution, linearity, and reliability improve. Engineers can now use standard optical components and off-the-shelf nanopositioners to build a high-quality atomic force microscope


    Beteiligte:
    MacKay, J.F. (Autor:in) / Brossman, B. (Autor:in) / Ghorbani, S. (Autor:in)

    Erschienen in:

    LASER FOCUS WORLD ; 47 , 10 ; 47-51


    Erscheinungsdatum :

    01.01.2011


    Format / Umfang :

    5 pages



    Medientyp :

    Aufsatz (Zeitschrift)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch


    Klassifikation :

    DDC:    621.366



    Nanopositioners deliver subatomic accuracy

    Atherton, P. | British Library Online Contents | 1994


    Integration of an atomic force microscope in a nanopositioning and nanomeasuring machine

    Hofmann,N. / Hausotte,T. / Jaeger,G. et al. | Kraftfahrwesen | 2004


    Atomic Force Microscope for Planetary Applications

    Pike, W. / Hecht, M. / Akiyanna, T. et al. | NTRS | 2000


    Atomic-force microscope makes silicon microlenses

    British Library Online Contents | 2005


    Hybrid, Model-Based Tapping Atomic Force Microscope

    Bucher, Izhak / Baruch, Eyal | Springer Verlag | 2025