Zugriff

    Zugriff über TIB

    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen

    Bestellung bei Subito €


    Exportieren, teilen und zitieren



    Titel :

    ESD damage simulation of integrated circuits by the consideration on parasitic parameters


    Beteiligte:
    Weimin, L. (Autor:in) / Dong, H. (Autor:in) / Jinghua, M. (Autor:in) / Jinsong, X. (Autor:in)


    Erscheinungsdatum :

    01.01.2011


    Format / Umfang :

    5 pages



    Medientyp :

    Aufsatz (Zeitschrift)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Unbekannt


    Klassifikation :

    DDC:    629.4






    Simulation of air conditioning circuits in vehicles under consideration of the engine cooling system

    Anzenberger,T. / Marzy,R. / Hager,J. et al. | Kraftfahrwesen | 2000


    Design and Simulation Tools for integrated Optic Circuits

    IEEE; Lasers and Electro-Optics Society | British Library Conference Proceedings | 1998