Trace analytical Capabilities of total-reflection x-ray fluorescence analysis
1985
S. 75-83
Reprint from: Advances in X-Ray Analysis. 28.1985
Langzeitarchivierung durch Technische Informationsbibliothek (TIB) / Leibniz-Informationszentrum Technik und Naturwissenschaften und Universitätsbibliothek
Buch
Unbekannt
Sensitivity enhancement of transducers for total internal reflection fluorescence [3620-53]
British Library Conference Proceedings | 1999
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