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    Titel :

    Applications of total reflection x-ray fluorescence in multi-element analysis


    Beteiligte:
    Michaelis, Walfried (Autor:in) / Prange, A. (Autor:in) / Knoth, J. (Autor:in)


    Erscheinungsdatum :

    1985


    Format / Umfang :

    S. 270-289


    Anmerkungen:

    Sonderdr. aus: Instrumentelle Multielementanalyse
    Langzeitarchivierung durch Technische Informationsbibliothek (TIB) / Leibniz-Informationszentrum Technik und Naturwissenschaften und Universitätsbibliothek


    Medientyp :

    Buch


    Format :

    Print


    Sprache :

    Unbekannt



    Total reflection X-ray fluorescence spectrometry for surface analysis

    Knoth, J. / Schwenke, H. / Weisbrod, U. et al. | TIBKAT | 1989




    Sensitivity enhancement of transducers for total internal reflection fluorescence [3620-53]

    Klotz, A. / Barzen, C. / Brecht, A. et al. | British Library Conference Proceedings | 1999


    Total reflection X-ray spectrometry: method and applications

    Prange, Andreas / Institut für Physik, GKSS-Forschungszentrum Geesthacht GmbH, Geesthacht | TIBKAT | 1989