An inspection apparatus (800) reduces the signal intensity of a low-frequency component included in chronological data for the measured value of longitudinal force and generates chronological data fora high-frequency component of the longitudinal force. The inspection apparatus (800) calculates the amount of deviation in line on the basis of the chronological data for the high-frequency componentof the longitudinal force.

    检查装置(800)降低前后方向力的测量值的时间序列数据中包含的低频成分的信号强度,生成前后方向力的高频成分的时间序列数据。检查装置(800)基于前后方向力的高频成分的时间序列数据计算轨向不平顺量。


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    Titel :

    INSPECTION SYSTEM, INSPECTION METHOD, AND PROGRAM


    Weitere Titelangaben:

    检查系统、检查方法及程序


    Beteiligte:
    NAKAGAWA JUNICHI (Autor:in) / SHIMOKAWA YOSHIYUKI (Autor:in) / SHINAGAWA DAISUKE (Autor:in) / GOTO OSAMU (Autor:in) / MINAMI HIDEKI (Autor:in)

    Erscheinungsdatum :

    24.04.2020


    Medientyp :

    Patent


    Format :

    Elektronische Ressource


    Sprache :

    Chinesisch


    Klassifikation :

    IPC:    G01B MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS , Messen der Länge, der Dicke oder ähnlicher linearer Abmessungen / B61K Andere Hilfseinrichtungen für Eisenbahnen , OTHER AUXILIARY EQUIPMENT FOR RAILWAYS



    INSPECTION SYSTEM, INSPECTION METHOD, AND PROGRAM

    NAKAGAWA JUNICHI / SHIMOKAWA YOSHIYUKI / SHINAGAWA DAISUKE et al. | Europäisches Patentamt | 2023

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    INSPECTION SYSTEM, INSPECTION METHOD, AND PROGRAM

    NAKAGAWA JUNICHI / SHINAGAWA DAISUKE | Europäisches Patentamt | 2021

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    INSPECTION SYSTEM, INSPECTION METHOD AND PROGRAM

    NAKAGAWA JUNICHI / SHIMOKAWA YOSHIYUKI / SHINAGAWA DAISUKE et al. | Europäisches Patentamt | 2021

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    INSPECTION SYSTEM, INSPECTION METHOD, AND PROGRAM

    NAKAGAWA JUNICHI / SHIMOKAWA YOSHIYUKI / SHINAGAWA DAISUKE et al. | Europäisches Patentamt | 2019

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    NAKAGAWA JUNICHI / SHIMOKAWA YOSHIYUKI / SHINAGAWA DAISUKE et al. | Europäisches Patentamt | 2017

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