Verfahren zum Messen der Totzeit von Leistungsschaltern in einer Motor-Endstufe, wobei die Motor-Endstufe wenigstens eine Halbbrücke (14) mit einem High-Side-FET (12) und einem Low-Side-FET (13) umfasst, dadurch gekennzeichnet, dass folgende Verfahrensschritte vorgesehen sind:- Messen eines tatsächlichen Einschaltzeitpunkts und eines tatsächlichen Ausschaltzeitpunktes des Low-Side-FETs (13),- Messen eines tatsächlichen Einschaltzeitpunkts und eines tatsächlichen Ausschaltzeitpunktes des High-Side-FETs (12),- Berechnen der Zeitdauer zwischen einem Ausschaltbefehl des High-Side-FETs (12) und dem tatsächlichen Einschaltzeitpunkt des Low-Side-FETs (13) zur Bestimmung der Einschaltzeit des Low-Side-FETs (TON-L),- Berechnen der Zeitdauer zwischen einem Ausschaltbefehl des Low-Side-FETs (13) und dem tatsächlichen Ausschaltzeitpunkt des Low-Side-FETs (13) zur Bestimmung der Ausschaltzeit des Low-Side-FETs (TOFF_L),- Berechnen der Zeitdauer zwischen dem Ausschaltbefehl des Low-Side-FETs (13) und einem tatsächlichen Einschaltzeitpunkt des High-Side-FETs (12) zur Bestimmung der Einschaltzeit des High-Side-FETs (TON_H),- Berechnen der Zeitdauer zwischen dem Ausschaltbefehl des High-Side-FETs (12) und dem tatsächlichen Ausschaltzeitpunkt des High-Side-FETs (12) zur Bestimmung der Ausschaltzeit des High-Side-FETs (TOFF_H),- Berechnen der Totzeiten (DTF,DTR) mit folgender Formel:DTF = (Einschaltzeit des Low-Side-Fet(TON-L))−(Ausschaltzeit des High-Side-FET(TOFF-H)),DTF = (Einschaltzeit des High-Side-Fet(TON-H))−(Ausschaltzeit des Low-Side-FET(TOFF-L)),- Vergleichen der berechneten Totzeiten (DTF,DTR) mit vorgegebenen Sollwerten.

    The invention relates to a method for measuring the dead time of circuit breakers in a motor output stage, wherein the motor output stage comprises at least one half bridge (14) having a high-side FET (12) and a low-side FET (13), wherein the following method steps are provided: measuring an actual switch-on time and an actual switch-off time of the low-side and high-side FETs; calculating the switch-on time and the switch-off time of the low-side and the high-side FETs; and calculating the dead times (DTF and DTR using the following formula: DTF= (switch-on time of the low-side FET) – (switch-off time of the high-side FET), DTR= (switch-on time of the high-side FET) – (switch-off time of the low-side FET); and comparing the calculated dead times (DTF, DTR) with predefined target values.


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    Titel :

    Verfahren zum Messen der Totzeit von Leistungsschaltern in einer Motor-Endstufe


    Beteiligte:
    KALAPOS GÁBOR (Autor:in)

    Erscheinungsdatum :

    10.10.2024


    Medientyp :

    Patent


    Format :

    Elektronische Ressource


    Sprache :

    Deutsch


    Klassifikation :

    IPC:    G01R Messen elektrischer Größen , MEASURING ELECTRIC VARIABLES / B62D MOTOR VEHICLES , Motorfahrzeuge



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