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    Titel :

    Criticality of Low-Energy Protons in Single-Event Effects Testing of Highly-Scaled Technologies


    Beteiligte:
    J. A. Pellish (Autor:in) / P. W. Marshall (Autor:in) / A. M. Phan (Autor:in) / C. M. Seidleck (Autor:in) / K. P. Rodbell (Autor:in) / M. S. Gordon (Autor:in) / K. A. LaBel (Autor:in) / J. R. Schwank (Autor:in) / N. A. Dodds (Autor:in) / C. M. Castaneda (Autor:in)

    Erscheinungsdatum :

    2014


    Format / Umfang :

    12 pages


    Medientyp :

    Report


    Format :

    Keine Angabe


    Sprache :

    Englisch




    Single-event upsets in highly scaled commercial SOI microprocessor

    Irom, Farokh / Farmanesh, Farhad | NTRS | 2004


    Single-Event Upsets Caused by High-Energy Protons

    Price, W. E. / Nichols, D. K. / Smith, L. S. et al. | NTRS | 1986


    Protons for Single Event Effects (SEE): Domestic U.S. Capacity and Challenges

    Kenneth A. Label / Thomas L Turflinger | NTRS | 2022


    Single event upset of dynamic RAMs by neutrons protons

    Guenzer, C.S. / Wolicki, E.A. / Allas, R.G. | Tema Archiv | 1979