Reliability testing - test-to-failure of electronic components


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    Titel :

    RESULTS OF A TEST-TO-FAILURE PROGRAM ON ELECTRONIC PARTS


    Beteiligte:

    Erscheinungsdatum :

    01.06.1962


    Medientyp :

    Sonstige


    Format :

    Keine Angabe


    Sprache :

    Englisch




    Failure analysis of electronic parts: laboratory methods

    Goddard Space Flight Center | TIBKAT | 1975


    Parts failure rates resulting from operational reliability program

    Goggin, M.F. | Engineering Index Backfile | 1963



    NASA Electronic Parts & Packaging (NEPP) Program

    P. Majewicz / J. Pellish | NTIS | 2021


    Parts Failure Rates Resulting from an Operational Reliability Program

    Goggin, Margaret F. | SAE Technical Papers | 1963