Report evaluates effects of power and temperature overstress on Teledyne and Texas Instruments devices. Temperature stress caused most failures for both manufacturers' lots. Failure modes are analyzed.


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    Titel :

    JANTX2N4856 field-effect transistor


    Erschienen in:

    Erscheinungsdatum :

    01.08.1980



    Medientyp :

    Sonstige


    Format :

    Keine Angabe


    Sprache :

    Englisch




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