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    Titel :

    The SCaN Testbed on the International Space Station (ISS)


    Beteiligte:
    Lux, James (Autor:in)

    Kongress:

    IEEE International Microwave Symposium 2011 ; 2011 ; Baltimore, MD, United States


    Erscheinungsdatum :

    10.06.2011


    Medientyp :

    Sonstige


    Format :

    Keine Angabe


    Sprache :

    Englisch