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    Titel :

    Dose and microdose measurement based on threshold shifts in MOSFET arrays in commercial SRAMS


    Beteiligte:
    Swift, G. M. (Autor:in) / Scheick, L. Z. (Autor:in)

    Erscheinungsdatum :

    01.07.2003


    Medientyp :

    Sonstige


    Format :

    Keine Angabe


    Sprache :

    Englisch




    SEE-Hardened-by-Design Area-Efficient SRAMs

    Lam, D. Y. / Lan, J. / McMurchie, L. et al. | British Library Conference Proceedings | 2005


    Impact of aging on radiation hardness(CMOS SRAMs)

    Shaneyfelt, M.R. / Winokur, P.S. / Fleetwood, D.M. et al. | Tema Archiv | 1997


    MIC4427 MOSFET Driver Total Ionizing Dose Test Report

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    Kim, Quiesup / Mccarty, Kenneth P. / Barnes, Charles E. et al. | NTRS | 1995