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    Titel :

    Focusing on NAND Flash SEFI Susceptibilities


    Beteiligte:
    Ted Wilcox (Autor:in)

    Kongress:

    13th Annual NASA Electronic Parts and Packaging (NEPP) Program's Electronics Technology Workshop (ETW) ; 2022 ; Greenbelt, MD, US


    Medientyp :

    Sonstige


    Format :

    Keine Angabe


    Sprache :

    Englisch




    Risk-Driven and Mitigation-Focused SEFI Testing of NAND Flash Devices

    Ted Wilcox / Matt Joplin / Michael Campola | NTRS | 2022


    Flash Memory and NAND

    Liu, Zengtao Tony | Springer Verlag | 2022


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