Risk-Driven and Mitigation-Focused SEFI Testing of NAND Flash Devices
SEE-MAPLD Single Event Effects (SEE) Symposium/Military and Aerospace Programmable Logic Devices (MAPLD) Workshop ; 2022 ; La Jolla (San Diego), CA, US
16.05.2022
Sonstige
Keine Angabe
Englisch
Springer Verlag | 2022
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