Zugriff

    Zugriff über TIB

    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen


    Exportieren, teilen und zitieren



    Titel :

    Risk-Driven and Mitigation-Focused SEFI Testing of NAND Flash Devices


    Beteiligte:
    Ted Wilcox (Autor:in) / Matt Joplin (Autor:in) / Michael Campola (Autor:in)

    Kongress:

    SEE-MAPLD Single Event Effects (SEE) Symposium/Military and Aerospace Programmable Logic Devices (MAPLD) Workshop ; 2022 ; La Jolla (San Diego), CA, US



    Erscheinungsdatum :

    16.05.2022


    Medientyp :

    Sonstige


    Format :

    Keine Angabe


    Sprache :

    Englisch





    Flash Memory and NAND

    Liu, Zengtao Tony | Springer Verlag | 2022


    Halbleiterindustrie: NAND-Flash-Markt in Bewegung

    British Library Online Contents | 2012


    NAND-Flash-Speicher: Schwaches zweites Quartal

    British Library Online Contents | 2008


    NAND-Flash-Speicher: Samsung in Xi'an

    British Library Online Contents | 2012