Zugriff

    Zugriff über TIB

    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen

    Bestellung bei Subito €


    Exportieren, teilen und zitieren



    Titel :

    Apparatus Measures Directional Reflectance Properties


    Erschienen in:

    NASA tech briefs ; 21 , 6 ; 26-27


    Erscheinungsdatum :

    1997



    Medientyp :

    Aufsatz (Zeitschrift)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch


    Klassifikation :

    BKL:    50.00 Technik allgemein: Allgemeines / 50.00 / 55.60 Raumfahrttechnik / 55.60



    Directional Reflectance Characterization Facility and

    McGuckin, B. T. / Haner, D. A. / Menzies, R. T. et al. | NTRS | 1995


    Directional Reflectance Spectroscopy of Spacecraft Materials

    Chris H. Lee / Patrick O. Seitzer / Charles M. Bachmann et al. | NTRS


    The Measurement of the Directional Hemispherical Reflectance From Spectralon

    Haner, D. A. / McGuckin, B. T. / Menzies, R. T. et al. | NTRS | 1997



    Subsystem support feasibility for formation flight measuring Bi-directional Reflectance

    Nag, Sreeja / Cahoy, Kerri / de Weck, Olivier | IEEE | 2015