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    Titel :

    Microstructures for characterization of seebeck coefficient of doped polysilicon films


    Beteiligte:
    Xie, J. (Autor:in) / Lee, C. (Autor:in) / Wang, M. F. (Autor:in) / Tsai, J. M. (Autor:in)

    Erschienen in:

    Erscheinungsdatum :

    01.01.2011


    Format / Umfang :

    7 pages



    Medientyp :

    Aufsatz (Zeitschrift)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch


    Klassifikation :

    DDC:    629.83



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