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    Titel :

    Two- and three-dimensional vision systems for inspection, control, and metrology : 29 - 30 October 2003, Providence, Rhode Island, USA



    Kongress:

    Conference ; 2003 ; Providence, RI Conference (Providence, RI) : 2003.10.29-30


    Erschienen in:

    Erscheinungsdatum :

    2004


    Format / Umfang :

    V, 214 S


    Anmerkungen:

    Langzeitarchivierung durch Technische Informationsbibliothek (TIB) / Leibniz-Informationszentrum Technik und Naturwissenschaften und Universitätsbibliothek



    Medientyp :

    Konferenzband


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch