An inspection apparatus (800) reduces a signal strength of a low-frequency component contained in time-series data of a measured value of a forward-and-backward-direction force and generates time-series data of a high-frequency component of the forward-and-backward-direction force. The inspection apparatus (800) calculates an alignment irregularity amount based on the time-series data of the high-frequency component of the forward-and-backward-direction force.


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    Titel :

    INSPECTION SYSTEM, INSPECTION METHOD, AND COMPUTER PROGRAM PRODUCT THEREFOR


    Weitere Titelangaben:

    INSPEKTIONSSYSTEM, INSPEKTIONSVERFAHREN UND COMPUTER-PROGRAMM DAFÜR
    SYSTÈME D'INSPECTION, PROCÉDÉ D'INSPECTION, ET PRODUIT DE PROGRAMME D'ORDINATEUR ASSOCIÉ


    Beteiligte:
    NAKAGAWA JUNICHI (Autor:in) / SHIMOKAWA YOSHIYUKI (Autor:in) / SHINAGAWA DAISUKE (Autor:in) / GOTO OSAMU (Autor:in) / MINAMI HIDEKI (Autor:in)

    Erscheinungsdatum :

    13.11.2024


    Medientyp :

    Patent


    Format :

    Elektronische Ressource


    Sprache :

    Englisch


    Klassifikation :

    IPC:    B61L Leiten des Eisenbahnverkehrs , GUIDING RAILWAY TRAFFIC / G01B MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS , Messen der Länge, der Dicke oder ähnlicher linearer Abmessungen / B61K Andere Hilfseinrichtungen für Eisenbahnen , OTHER AUXILIARY EQUIPMENT FOR RAILWAYS



    INSPECTION SYSTEM, INSPECTION METHOD, COMPUTER PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM

    NAGAI KENTARO | Europäisches Patentamt | 2023

    Freier Zugriff

    INSPECTION APPARATUS, INSPECTION SYSTEM, INFORMATION PROCESSING APPARATUS, INSPECTION METHOD AND COMPUTER PROGRAM

    KOBAYASHI KOJI / ANZAI JUN / FUJIMURA KAZUYA et al. | Europäisches Patentamt | 2018

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    INSPECTION SYSTEM, STRUCTURE INSPECTION METHOD, COMPUTER PROGRAM, AND STORAGE MEDIUM

    NAGAI KENTARO | Europäisches Patentamt | 2023

    Freier Zugriff

    INSPECTION SYSTEM, INSPECTION METHOD, AND PROGRAM

    NAKAGAWA JUNICHI / SHIMOKAWA YOSHIYUKI / SHINAGAWA DAISUKE et al. | Europäisches Patentamt | 2023

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    INSPECTION SYSTEM, INSPECTION METHOD, AND PROGRAM

    NAKAGAWA JUNICHI / SHINAGAWA DAISUKE | Europäisches Patentamt | 2021

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